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Limites de la technologie de fluorescence X

La technologie de fluorescence X (XRF) exploite les propriétés d’émission inhérentes des matériaux pour interpréter leur composition élémentaire. Il s’agit de l’une des principales méthodes analytiques utilisées pour déterminer le contenu chimique de divers échantillons au niveau des traces et des ultra-traces. Parmi les nombreux avantages de la technologie de fluorescence X, citons son extrême polyvalence, sa non-destructivité et ses niveaux de précision exceptionnels en raison de la fiabilité de la physique sous-jacente de la technologie. Il existe cependant des inconvénients à cette méthode leader de l’industrie de caractérisation des matériaux.

Dans cet article, XRF Scientific explore plus en détail les limites de la technologie de fluorescence X. Nous proposerons également quelques solutions aux défis que représente l’analyse élémentaire moderne.

Description de la technologie de fluorescence X

Chaque élément du tableau périodique présente un rayonnement caractéristique lorsqu’il est excité avec une énergie de courte longueur d’onde. Dans le cas de la technologie de fluorescence X, ce rayonnement est de l’ordre de 0,01 à 10 nanomètres (nm) et est fourni par un tube à rayons X contrôlé. Le dispositif ionise les atomes constitutifs d’un échantillon et les amène à éjecter des électrons de leurs orbitales atomiques, émettant des rayons X secondaires. Ceux-ci sont acquis par un détecteur optique à haute résolution et un processeur de signal numérique, qui convertit le spectre d’énergie en une représentation graphique des pics d’intensité énergétique.

Ces pics d’énergie sont utilisés pour identifier et quantifier les éléments présents dans un échantillon avec des degrés de précision exceptionnels. Des niveaux de précision similaires peuvent être atteints par spectrométrie d’émission optique (OES) et analyse par plasma à couplage inductif (ICP), mais la technologie de fluorescence X est le seul outil qui peut être décrit de manière fiable comme totalement non destructif.

Cependant, ce simple aperçu de la technologie de fluorescence X ne prend pas en compte les influences de divers facteurs interférents. Dans une expérience idéale ; les intensités de pointe représenteraient une relation linéaire avec la concentration d’un élément donné, mais des écarts peuvent se produire en raison de forts effets de matrice. Les rayons X primaires peuvent être atténués ou améliorés par un matériau entourant l’échantillon visé. Cela remet en question la précision de l’analyse directe de fluorescence X.

En parallèle à l’influence des puissants effets de matrice, la technologie de fluorescence X est également superficiellement limitée par plusieurs autres facteurs, notamment : l’incapacité de la technologie à mesurer le rayonnement de tous les éléments et les problèmes d’exposition aux rayonnements pour les opérateurs. Cependant, les limites réelles de ces facteurs sont négligeables.

Surmonter les limites grâce à la préparation des échantillons

L’analyse par fluorescence X directe est souvent prescrite dans des environnements à haut débit et à coûts compétitifs. Des analyseurs portables sont utilisés pour les mesures in situ d’échantillons de minéraux et de minerai dans des applications d’exploitation minière et d’exploration de la terre, mais les résultats proposés peuvent être faussés par les effets complexes de matrice du matériau environnant. Il existe plusieurs réelles solutions à ce problème.

Les analyseurs de fluorescence X doivent être régulièrement étalonnés en utilisant un matériau de référence standard pour maintenir la précision sur des cycles d’utilisation répétés. Cependant, cela ne peut fournir qu’un degré de certitude quant à l’intégrité des résultats.

La méthode la plus efficace pour améliorer la qualité des résultats de la technologie de fluorescence X est d’utiliser des méthodologies robustes de préparation des échantillons afin d’éliminer les hétérogénéités complexes qui pourraient provoquer une atténuation indésirable ou une amélioration du spectre d’émission. À l’aide d’un flux eutectique, de petits volumes de matériau d’échantillon peuvent être fusionnés en une bille de verre ou un pellet, ce qui permet d’éliminer les effets de matrice tout en offrant une représentation homogène presque parfaite du matériau d’échantillon brut.

Solutions de préparation d’échantillons proposées par XRF Scientific

XRF Scientific est un leader mondial de la technologie de fluorescence X, offrant un portefeuille de produits et services pour aider à l’optimisation des résultats analytiques dans un large éventail de marchés. N’hésitez pas à contacter dès aujourd’hui à contacter un membre de notre équipe si vous souhaitez obtenir plus d’informations sur notre équipement de laboratoire essentiel pour une analyse XRF.