Uncategorised
Comment minimiser les effets de la taille des particules dans les mesures XRF ?
L’analyse par fluorescence X (ou XRF, de l’anglais “X-Ray fluorescence”) est une excellente méthode pour déterminer la composition élémentaire d’un matériau. La XRF est une technique non destructive, ce qui signifie que l’échantillon analysé reste intact. Elle permet d’identifier une large variété d’éléments, allant du sodium (Na) à l’uranium (U). Sa capacité à révéler les éléments présents dans un échantillon provient de l’application de rayons X. Ces derniers peuvent exciter les atomes d’un matériau, générant ainsi des rayons X caractéristiques dont l’énergie peut être détectée pour identifier un élément spécifique. Malheureusement, la taille des particules peut affecter la précision des mesures XRF.
Lire la suite
Comment maximiser la pénétration des rayons X en spectrométrie XRF ?
La spectrométrie de fluorescence X (ou XRF, de l’anglais “X-ray Fluorescence”) est une technique analytique puissante utilisée dans de nombreux secteurs pour une analyse élémentaire de pointe. Qu’il s’agisse d’alliages complexes, d’échantillons géologiques ou de tout autre matériau, il est essentiel que les rayons X pénètrent au maximum l’échantillon pour obtenir des résultats fiables et précis. L’optimisation de la source de rayons X et l’utilisation de techniques avancées jouent un rôle, mais le cœur d’une pénétration optimale réside dans une préparation minutieuse des échantillons.
L’importance de la préparation des échantillons
Une préparation adéquate des échantillons est essenti...
Lire la suite
Comment minimiser les effets de matrice en spectrométrie XRF ?
La spectrométrie de fluorescence X (ou XRF, de l’anglais “X-ray fluorescence”) est un pilier de l’analyse chimique. Elle offre une détection non destructive des éléments majeurs et traces, avec une sensibilité allant de 100 % jusqu’à des concentrations inférieures au PPM. Cette technique peut être appliquée à un large éventail d’éléments, généralement du béryllium (Be) à l’uranium (U). Toutefois, elle a aussi ses limites. Les effets de matrice, par exemple, posent un obstacle majeur à sa précision. Ces effets sont déclenchés par des variations élémentaires au sein de l’échantillon. Ils peuvent perturber l’absorption des rayons X et l’émission de fluorescence, compromettant ainsi les résultats.
Il existe cependant des solutions pou...
Lire la suite
La spectrométrie de fluorescence X (ou XRF, de l’anglais “X-ray Fluorescence”) est une technique analytique puissante utilisée dans de nombreux secteurs pour une analyse élémentaire de pointe. Qu’il s’agisse d’alliages complexes, d’échantillons géologiques ou de tout autre matériau, il est essentiel que les rayons X pénètrent au maximum l’échantillon pour obtenir des résultats fiables et précis. L’optimisation de la source de rayons X et l’utilisation de techniques avancées jouent un rôle, mais le cœur d’une pénétration optimale réside dans une préparation minutieuse des échantillons.
L’importance de la préparation des échantillons
Une préparation adéquate des échantillons est essenti...
La spectrométrie de fluorescence X (ou XRF, de l’anglais “X-ray fluorescence”) est un pilier de l’analyse chimique. Elle offre une détection non destructive des éléments majeurs et traces, avec une sensibilité allant de 100 % jusqu’à des concentrations inférieures au PPM. Cette technique peut être appliquée à un large éventail d’éléments, généralement du béryllium (Be) à l’uranium (U). Toutefois, elle a aussi ses limites. Les effets de matrice, par exemple, posent un obstacle majeur à sa précision. Ces effets sont déclenchés par des variations élémentaires au sein de l’échantillon. Ils peuvent perturber l’absorption des rayons X et l’émission de fluorescence, compromettant ainsi les résultats.
Il existe cependant des solutions pou...
