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Les avantages des perles d’étalonnage XRF
Les équipements de fluorescence X (ou XRF, de l’anglais “X-Ray Fluorescence”) sont chargés d’une mission critique : analyser la composition élémentaire de divers matériaux. Réputée pour sa rapidité et sa précision, la XRF est appréciée dans de nombreux secteurs, notamment la géologie et la production industrielle. Toutefois, si les dispositifs XRF ne sont pas calibrés régulièrement, les résultats obtenus peuvent manquer de fiabilité et de précision, ce qui peut poser des problèmes dans ces domaines et bien d’autres. Une méthode efficace pour calibrer les dispositifs XRF consiste à utiliser des perles d’étalonnage XRF. Poursuivez votre lecture pour en savoir plus sur ces perles et les avantages qu’elles offrent.
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Comment préparer des perles de verre pour la spectrométrie XRF ?
Chaque matériau contient une combinaison unique d’éléments qui lui confèrent des propriétés spécifiques influençant ses performances. Identifier ces éléments grâce à une analyse élémentaire est un excellent le contrôle qualité, qui permet de détecter toute contamination et de garantir des normes de production constantes. La spectrométrie de fluorescence X (ou XRF, de l’anglais “X-Ray Fluorescence”) peut être utilisée pour déterminer la composition élémentaire d’un matériau. Elle trouve des applications dans de nombreux domaines, notamment en archéologie et pour l’étude des pigments, en sciences de l’environnement pour le suivi de la pollution, ou encore en pharmaceutique pour l’analyse des médicaments.
La préparation des échantillo...
Comment minimiser les effets de la taille des particules dans les mesures XRF ?
L’analyse par fluorescence X (ou XRF, de l’anglais “X-Ray fluorescence”) est une excellente méthode pour déterminer la composition élémentaire d’un matériau. La XRF est une technique non destructive, ce qui signifie que l’échantillon analysé reste intact. Elle permet d’identifier une large variété d’éléments, allant du sodium (Na) à l’uranium (U). Sa capacité à révéler les éléments présents dans un échantillon provient de l’application de rayons X. Ces derniers peuvent exciter les atomes d’un matériau, générant ainsi des rayons X caractéristiques dont l’énergie peut être détectée pour identifier un élément spécifique. Malheureusement, la taille des particules peut affecter la précision des mesures XRF.
