Dernières nouvelles
Nouvelles
Comment fonctionne un spectromètre XRF?
La spectrométrie de fluorescence X (XRF) est la mesure et l’analyse d’échantillons excités par un rayonnement incident. Il s’agit d’une méthode non destructive de caractérisation des matériaux, permettant une analyse précise de la composition élémentaire et chimique des métaux, de la céramique, des échantillons géologiques, des éléments historiques, etc. Cette méthode repose sur un spectromètre XRF et des routines spécialisées de préparation d’échantillons pour assurer une excellente précision de mesure et une répétabilité.
Limites de la technologie de fluorescence X
La technologie de fluorescence X (XRF) exploite les propriétés d’émission inhérentes des matériaux pour interpréter leur composition élémentaire. Il s’agit de l’une des principales méthodes analytiques utilisées pour déterminer le contenu chimique de divers échantillons au niveau des traces et des ultra-traces. Parmi les nombreux avantages de la technologie de fluorescence X, citons son extrême polyvalence, sa non-destructivité et ses niveaux de précision exceptionnels en raison de la fiabilité de la physique sous-jacente de la technologie. Il existe cependant des inconvénients à cette méthode leader de l’industrie de caractérisation des matériaux.
Dans cet article, XRF Scientific explore plus en détail les limites de la technologie d...
Introduction du nouveau produit – xrFuse 1
XRF Scientific Ltd a élargi la gamme des machines de fusion électrique xrFuse en lançant le nouveau xrFuse 1. L’instrument robuste permet la préparation de billes fusionnées pour les solutions XRF ou ICP. De plus amples informations sont disponibles sur la page du produit.
...
